如果您想要研究晶體結構，地質偏光顯微鏡將是您的較好選擇。無論是礦物、塑料和聚合物、藥物藥品或燃料和接合劑，徠卡正置偏光顯微鏡都能幫助您觀察到感興趣的內容，完成您的研究或質量控制任務。
根據不同的應用，您可以從三種不同的地質偏光顯微鏡系統中進行選擇：
wan全編碼的半自動 Leica DM4 P
手動 Leica DM2700 P
Leica DM750 P 教學顯微鏡
Leica DM2700 P專業偏光顯微鏡
徠卡正置地質偏光顯微鏡助您獲得高質量結果
您需要一些組件來實現偏光研究目標。以下都是重要的組件：
無應力光學部件，因為您需要確保觀測到的雙折射來自樣品而非光學部件
LED 照明至關重要，因為這種照明能夠均勻照亮樣品，并具有恒定的色溫
偏光鏡幫助您看到雙折射，旋轉臺幫助您對準樣品和光軸
您還需要用于對光軸進行錐光觀察的勃氏鏡和用于測量任務的補償器
徠卡正置偏光顯微鏡采用無應力光學部件
恰到好處的照明！
徠卡正置偏光顯微鏡采用LED 照明，較鹵素照明優勢更加明顯：
它比鹵素照明消耗的能源少，而且無需更換，不會導致機器停機
LED 使用壽命長達 72,000 小時
LED 為樣品提供均勻照明，色溫恒定，為您提供真實的樣品形貌
LED 可快速調整光強，讓您的工作順暢無阻
LED 無需日光濾鏡，因為它已經提供了 4500 K 恒定光溫
LED 產生的熱量少，因此無需冷卻風扇
LED 可幫助您營造安靜無干擾的工作環境，因為沒有冷卻風扇在周圍產生噪音
徠卡正置偏光顯微鏡采用LED照明
Leica DM4 P：quan方位服務唾手可得
如果您想在偏光顯微鏡下進行各種操作，可以使用 Leica DM4 P 半自動正置偏光顯微鏡。
通過編碼組件存儲和調用信息
想要更換物鏡時，可通過照明強度控制和對比度管理器調用照明強度和光闌的設置。
得益于編碼物鏡轉盤的存在，攝取的圖像始終得到校準。
辨識感興趣的結構
25-mm 大視場為您帶來優質的概覽圖像。
為您展現所需具體信息的往往是低放大倍率下的整體圖，而不是細節圖 — 比如流動結構、變形結構或冷卻過程造成的帶狀排列結構。
Leica DM4 P 半自動正置偏光顯微鏡
讓物鏡轉盤來應對！
物鏡轉盤配備 6 個物鏡并具有不同放大倍率，獲取豐富的樣品信息。
使用 2.5 倍概覽物鏡可識別樣品中的宏觀結構
如要借助錐光法對光學屬性進行詳盡研究，可切換為 63 倍放大倍率
切換至 100 倍可以沿顆粒邊界檢驗相反應
而且物鏡轉盤也是編碼的，可為您提供智能支持。
徠卡偏光顯微鏡配備 6 物鏡轉盤
兩種照明物盡其用
您可以將 Leica DM4 P 偏光顯微鏡配置為 LED 照明使用透射光或入射光，也可以一次性配置為使用兩種光源。
進行反射率測量時必須使用入射光，例如觀察礦石或煤炭。
進行雙折射測量時則需要使用透射光，例如檢測地質薄片、聚合物薄膜或藥品。
在地質研究等特殊應用中，兩種光都bi不可少。
當顯微鏡配置為使用入射光和透射光兩種光時，相關物鏡 (帶或不帶蓋玻片校正功能) 應從 >10 倍的放大倍率開始使用。
Leica DM4 P 偏光顯微鏡的 LED 照明可選擇使用透射光或入射光
研究光學屬性
錐光法用于研究干涉圖。這些圖的形狀和由補償器進行的修改可以生成有關研究材料光學屬性方面的信息。您可以測定材料的光軸數量、光軸角度和光學特性。
Leica DM4 P 非常適用于錐光法：
具有高放大倍率和高數值孔徑的無應力物鏡是該項應用的bi備條件。
使用特殊 63 倍徠卡物鏡，能滿足偏振等級 5 的最高要求，從而獲取優質結果。
強散色 Brookit (TiO2) 錐光圖
方解石厚片的單軸干涉圖，垂直于光軸
黑云母晶體薄片圓偏光雙軸干涉圖，對角位置。光軸位置清晰可辨
chao強靈活性：Leica DM2700 P
如果您不需要全自動化和最大可再現性，Leica DM2700 P 就是您的良好儀器選擇。除自動化以外，它還能提供毫不遜色于 Leica DM4 P 的靈活性。
在 5 倍可調中物鏡轉盤上使用 5 個物鏡獲取準確無誤的樣品信息
在 22-mm 視場中獲得大概覽圖
借助入射光觀測的 UC-3D 照明，獲得效果良好的對比度
Leica DM2700 P 正置偏光顯微鏡較其它顯微鏡更加靈活
教學之wang：Leica DM750 P
在教學中，您需要一種可供學生們日常使用的耐用工具。使用簡單，即插即用 — 這是成功教學的先決條件。
使用 4 個物鏡細致入微地了解您的樣品
采用 20-mm 視場，樣品概覽，一目了然
享受儀器帶來的實用細節：使用手柄就可以搬動，電纜線可隱藏在儀器中
Leica DM750 P 教學級偏光顯微鏡
您的選擇：Leica DM4 P
借助編碼的功能性，可靈活適應各種任務，操作安全簡單，適用于學術研究、操作新手或多用戶環境
6 位編碼可調中物鏡轉盤
照明和對比度管理，獲得可再現結果
編碼錐光法，采用 1.6 倍放大倍率調節器
LED 照明狀態顯示
360° 旋轉臺，帶或不帶 45° 卡位裝置
無應力光學部件
偏振設備范圍廣泛
固定或可變補償器，符合 DIN 58879
Leica DM4 P 正置顯微鏡
首頁-產品展示-Leica 顯微鏡系統-徠卡正置顯微鏡-徠卡地質偏光顯微鏡
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